<sup id="vcueo"><rp id="vcueo"><dd id="vcueo"></dd></rp></sup>
<menu id="vcueo"></menu>
<sup id="vcueo"></sup>
  • <sup id="vcueo"><li id="vcueo"></li></sup>
    <dfn id="vcueo"><i id="vcueo"></i></dfn>
    <dfn id="vcueo"></dfn>
    <span id="vcueo"><code id="vcueo"><small id="vcueo"></small></code></span>
  • 加入收藏 在線留言 聯系我們
    關注微信
    手機掃一掃 立刻聯系商家
    全國服務熱線19826412072

    霍爾效應測試檢測機構,半導體材料高溫霍爾測試

    更新時間
    2024-12-26 15:00:00
    價格
    請來電詢價
    聯系電話
    19826412072
    聯系手機
    19826412072
    聯系人
    肖工
    立即詢價

    詳細介紹
    品牌
    復達檢測
    檢測類型
    第三方檢測機構
    機構資質
    CMA/CNAS等
    電子報告
    提供
    檢測周期
    5-10個工作日(可加急)

    霍爾效應測試主要用于研究半導體材料/光電材料的電學特性,可以測量材料在不同溫度、磁場下的載流子濃度、遷移率、電阻率、霍爾系數及載流子類型。


    霍爾效應測試檢測項目


    高溫霍爾測試、霍爾效應測試、載流子濃度、遷移率、電阻率、霍爾系數、導電類型、霍爾遷移率測試、常規檢測、第三方檢測、現場檢測等。(具體以客戶實際情況為準)


    霍爾效應測試檢測范圍


    半導體材料、單晶半導體、光電材料等。


    霍爾效應測試檢測標準(部分)


    1、 ASTM F418-77(2002 測量霍爾效應用恒定成分范圍的外延磷化砷化鎵試樣的制備


    2、 ASTM F76-86(1996)e1 測量單晶半導體的電阻率、霍爾系數及霍爾遷移率的試驗方法


    3、 ASTM F76-86(2002 測量單晶半導體的電阻率、霍爾系數及霍爾遷移率的試驗方法


    4、 ASTM F76-08 測量單晶半導體的電阻率、霍爾系數及霍爾遷移率的試驗方法


    5、 GB/T 4326-2006 非本征半導體單晶霍爾遷移率和霍爾系數測量方法


    6、 ASTM F76-08(2016)e1 測量單晶半導體電阻率和霍爾系數及測定霍爾遷移率的標準試驗方法


    7、 GB 4326-1984 非本征半導體單晶霍爾遷移率和霍爾系數測量方法


    什么是第三方檢測報告?


    第三方檢測報告是由獨立的第三方檢測機構或實驗室基于特定的標準、規范或要求進行測試和評估,所提供的有關評估和測試結果的正式文件。


    這些機構與被測試實體(如生產商、供應商或組織等)沒有利益關系,有相對的獨立性和公正性,有資格向社會出公正數據(檢驗報告),可以提供客觀、公正的評估。旨在確保產品、材料或系統的質量、安全性、合規性等方面的要求得到滿足。


    以上是有關霍爾效應測試檢測的相關介紹,上海復達檢測機構有CMA、CNAS等資質,專注分析、檢測、測試、鑒定、研發五大服務領域。服務面向全國,上海、北京、天津、沈陽、濟南、南京、蘇州、杭州、合肥、鄭州、武漢、長沙、廣州、深圳、成都、西安等地區均設有分部。


    相關產品

    聯系方式

    • 電  話:19826412072
    • 聯系人:肖工
    • 手  機:19826412072