IC芯片失效分析檢測機構，芯片X射線無損檢測

集成電路簡稱 IC；或稱微電路、微芯片、晶片/芯片在電子學中是一種將電路（主要包括半導體設備，也包括被動組件等）小型化的方式，并時常制造在半導體晶圓表面上。

芯片檢測項目

外觀質量、規格尺寸、失效分析、無損檢測、X射線檢測、可靠性測試、容錯測試、功能測試、時序測試、性能測試、穩定性測試、電學測試、光學檢測、聲學檢測、功能測試、電源與功耗管理測試、信號完整性、電氣性能測試、環境耐受性測試、鹽霧試驗、耐堿性、常規檢測、第三方檢測、現場檢測等。（具體以客戶實際情況為準）

芯片檢測范圍

邏輯芯片、存儲芯片、傳感器芯片、電源芯片、通信芯片、半導體芯片、射頻芯片等。

芯片檢測標準（部分）

1、 IPC J-STD-012 CD-1996 倒裝芯片和芯片規模技術的實施

2、 IPC J-STD-012-1996 倒裝芯片和芯片規模技術的實施

3、 IPC J-STD-013 CD-1996 倒裝芯片和芯片規模技術的實施

4、 YC/T 27-2002 煙用芯片絲束

5、 ES 59008-5-1-2001 半導體芯片的數據要求第 5-1 部分：芯片類型的特殊要求和建議 裸芯片

6、 IPC J-STD-027-2003 倒裝芯片和芯片尺寸配置的機械大綱標準

7、 IPC J-STD-027 CD-2003 倒裝芯片和芯片尺寸配置的機械外形標準

什么是第三方檢測報告？

第三方檢測報告是由立的第三方檢測機構或實驗室基于特定的標準、規范或要求進行測試和評估，所提供的有關評估和測試結果的正式文件。

這些機構與被測試實體（如生產商、供應商或組織等）沒有利益關系，具有相對的獨立性和公正性，有資格向社會出具公正數據(檢驗報告)，可以提供客觀、公正的評估。旨在確保產品、材料或系統的質量、安全性、合規性等方面的要求得到滿足。

上海復達檢測是法定的第三方檢測機構，具有CMA、CNAS等資質，專注分析、檢測、測試、鑒定、研發五大服務領域。服務面向全國，上海、北京、天津、沈陽、濟南、南京、蘇州、杭州、合肥、鄭州、武漢、長沙、廣州、深圳、成都、西安等地區均設有分部。