納米氧化鎵檢測機構

氧化鎵別名三氧化二鎵，是一種透明的氧化物半導體材料，在光電子器件方面有廣闊的應用前景，被用作于Ga基半導體材料的絕緣層，以及紫外線濾光片。

氧化鎵檢測范圍

氧化鎵晶片、氧化鎵晶體、電子級氧化鎵、單晶氧化鎵、羥基氧化鎵、納米氧化鎵、氧化鎵薄膜、高純氧化鎵等。

氧化鎵檢測項目

成分檢測、含量檢測、鎵含量、純度檢測、雜質含量、物理性質檢測、化學性質檢測、導電性能檢測、發光特性檢測、熔點檢測、溶解性檢測、穩定性檢測等。

氧化鎵檢測周期：7-15個工作日(參考周期，可加急)

氧化鎵檢測標準（部分）

1、 YS/T 741-2010 氧化鎵

2、 STAS SR 4813-16-1994 鋁礦石．氧化鎵測定

3、 GOST 14657.11-1996 鋁土礦.氧化鎵含量測定法

4、 STAS SR 4813-16-1994 鋁礦石．氧化鎵測定

5、 ASTM E402-95 用氧化鎵載體技術作氧化鈾(U308)光譜分析的標準試驗方法

6、 T/IAWBS 015-2021 氧化鎵單晶片X射線雙晶搖擺曲線半高寬測試方法

7、 YS/T 742-2010 氧化鎵化學分析方法雜質元素的測定電感耦合等離子體質譜法

8、 YS/T 979-2014 高純三氧化二鎵

9、 YS/T 575.15-2006 鋁土礦石化學分析方法 羅丹明B萃取光度法測定三氧化二鎵量

氧化鎵檢測流程

1、聯系客服，溝通檢測需求；

2、根據實際情況確定樣品遞送流程，上門取樣/送樣/郵寄樣品；

3、對樣品進行初步、獲取樣品的特性以及相關指標；

4、根據客戶的需求，根據檢測經驗及標準方法，定制試驗方案；

5、進行試驗，得到試驗數據，出具測試報告；

6、完善的售后服務，可隨時咨詢；

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