銻化銦檢測機構，銻化銦單晶材料性能測試

銻化銦是一種具有較窄能隙的半導體，熔點低，易于加工。其晶體結構為面心立方晶系，具有較高的電子遷移率。

銻化銦檢測項目

外觀質量、材質鑒定、A和B原子面、位錯密度、導電性、電阻率、拋光片厚度、晶面與定向、短軸尺寸、表面粗糙度、表面質量、載流子濃度、電阻率、霍耳系數、霍爾遷移率測試、常規檢測、第三方檢測等。（具體以客戶實際情況為準）

銻化銦檢測標準（部分）

1、 GJB 10342-2021 銻化銦單晶拋光片規范

2、 GB/T 11072-2009 銻化銦多晶、單晶及切割片

3、 SJ 20641-1997 紅外探測器用銻化銦單晶規范

4、 SJ 20640-1997 紅外探測器用銻化銦單晶片規范

5、 QJ 2462-1993 多元線列光伏銻化銦紅外探測器技術條件

6、 GB 11297.7-1989 銻化銦單晶電阻率及霍爾系數的測試方法

7、 GJB 1206/2-1994 制冷光導銻化銦紅外探測器組件詳細規范

銻化銦的用途

銻化銦具有廣泛的應用領域和潛在的用途，包括紅外探測器和傳感器、光電子器件、量子阱結構器件、紅外光譜學、磁敏傳感器和AlInSb HEMT等。

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