XPS測試，X射線光電子能譜分析機構

X射線光電子能譜技術（XPS）是電子材料與元器件顯微分析中的一種先進分析技術，而且是和俄歇電子能譜技術（AES）常常配合使用的分析技術。

X射線光電子能譜分析檢測范圍

薄膜、金屬、無機材料、催化劑、聚合物、涂層材料礦石等。

X射線光電子能譜分析檢測項目

X射線光電子能譜分析、總譜、高分辨分譜、價帶譜、Ar離子刻蝕、俄歇譜、常規檢測、第三方檢測等。（具體以客戶實際情況為準）

X射線光電子能譜分析檢測周期：7-15個工作日(參考周期、可加急

X射線光電子能譜分析檢測標準（部分）

1、 GB/T 19500-2004 X射線光電子能譜分析方法通則

2、 GB/T 30704-2014 表面化學分析 X射線光電子能譜 分析指南

3、 JIS K 0152:2014 表面化學分析. X射線光電子能譜分析. 強度標的重復性和一致性

4、 KS D ISO 19319-2005(2020 表面化學分析－俄歇電子能譜和X射線光電子能譜－分析儀橫向分辨率、分析面積和樣品面積的測定

5、 NF X21-071:2011 表面化學分析.X射線光電子能譜法.分析用導則

6、 ISO/TR 19319:2003 表面化學分析.俄歇電子能譜和X射線光電子能譜.分析員對橫向分辨率、分析區域和樣品區域的目視檢測

7、 ISO 18554:2016 表面化學分析. 電子光譜. 采用X射線光電子能譜分析法對材料進行分析的X射線的意外降解的識別, 評估和修正程序

8、 ISO 13424:2013 表面化學分析——X射線光電子能譜；薄膜分析結果的報告

9、 GB/T 36401-2018 表面化學分析 X射線光電子能譜 薄膜分析結果的報告

X射線光電子能譜分析檢測流程

1、聯系客服、溝通檢測需求；

2、根據實際情況確定樣品遞送流程、上門取樣、送樣、郵寄樣品；

3、對樣品進行初步、獲取樣品的特性以及相關指標；

4、根據客戶的需求、根據檢測經驗及標準方法、定制試驗方案；

5、進行試驗、得到試驗數據、出具測試報告；

6、完善的售后服務、可隨時咨詢；

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